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J200飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)
產(chǎn)品時間：2020-07-27
J200飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)為準確定量的分析元素和同位素測量樣品相匹配的標準物質(zhì)用的設備，采用長激光脈沖的系統(tǒng)改變剝蝕樣品的數(shù)量和化學成分，這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學特性，具備智能輸送和補充氣控制功能
J200飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)為準確定量的分析元素和同位素測量樣品相匹配的標準物質(zhì)用的設備，采用長激光脈沖的系統(tǒng)改變剝蝕樣品的數(shù)量和化學成分，這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學特性，具備智能輸送和補充氣控制功能，使每種氣體按預定的方式達到設定值，同步開關確保穩(wěn)定的ICP-MS等離子體狀態(tài)，防止等離子體火焰噴出。預設閥配置可選擇氬氣或氦氣作為載氣或緩沖氣，功能直觀、帶圖形界面，易瀏覽不同的樣品區(qū)域，設立靈活的采樣方式。
基本參數(shù)：
1、供電要求：110-240VAC,50/60Hz；
2、重量：272Kg；
3、產(chǎn)品尺寸：1780X660X760mm；
4、自動X-Y軸：100mmX100mm行程范圍，分辨率0.2微米；
5、激光脈沖能量：343nm-1030nm；
6、樣品成像光源： 泛光LED燈。
設備特點：
1、系統(tǒng)還可以對植物葉片進行深度的分析；
2、可編制成組，自動順序執(zhí)行，使測量工作高度自動化；
3、用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式；
4、自動高度調(diào)節(jié)傳感器、樣品室等部件的工作狀態(tài)；
5、用戶可將多個硬件部件運行命令集合，并按時間順序排列；
6、易瀏覽不同的樣品區(qū)域，設立靈活的采樣方式；
7、連續(xù)可調(diào)光學衰減器，集成激光能量監(jiān)測單元。
J200飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式，包括光柵線狀、曲線、隨機點、任意尺寸網(wǎng)格或預先編制的模式， 長激光脈沖系統(tǒng)產(chǎn)生的樣品顆粒大（常大于數(shù)微米），駐留在輸送管中，導致運輸效率低，并且降低了分析的靈敏度，用戶可*依靠J200系統(tǒng)輸送高質(zhì)量的樣品顆粒到ICP-MS系統(tǒng)，用戶簡單、方便地操作硬件部件。只需簡單點擊tab鍵，用戶即可檢查飛秒激光、氣流系統(tǒng)、光模塊、3-D操作臺、自動高度調(diào)節(jié)傳感器、樣品室等部件的工作狀態(tài)。
